由微測檢測主辦的"智能排插研討會(huì)"于2016年12月9日在深圳市成功召開。大會(huì)以智能排插為主題，旨在為智能排插領(lǐng)域提供一個(gè)探討最新核心技術(shù)、應(yīng)對(duì)策略、創(chuàng)新技術(shù)（產(chǎn)品）一個(gè)高層次的溝通、合作、交流平臺(tái)。

      本次會(huì)議邀請了 Intertek 天祥資深工程師 Angus Tam、微測檢測技術(shù)經(jīng)理 Ares 、微測檢測項(xiàng)目經(jīng)理 Yoki 等智能排插領(lǐng)域?qū)＜疫M(jìn)行了探討和分析。與會(huì)人員積極互動(dòng)，分享了滿滿的干貨，活動(dòng)現(xiàn)場氣氛熱烈。

微測檢測總經(jīng)理致辭

天祥 Angus Tam分享

   在大家依依不舍中，智能排插研討會(huì)圓滿落幕。感謝每一位參會(huì)代表和工作人員的辛苦付出，活動(dòng)能夠得到大家的一致肯定和支持，你們的付出是值得。

   最后驚喜大放送，微測檢測在2017年新的一年將會(huì)有一場神秘大會(huì)接踵而至，錯(cuò)過這次的你不用遺憾，盡情期待吧！